|
реклама |
|
|
|
|
|
|
Справочник инженера Аннотация к статье << Назад
Единство измерений твердости тонких покрытий и слоев толщиной от 100 нм до 1мкм |
А.Э. Асланян
В статье описывается процедура обеспечения единства измерений твердости методами инструментального индентирования в микро- и нано- диапазонах. Описана поверочная схема для средств измерений твердости методами инструментального индентирования.
Ключевые слова: покрытие, иземерение, поверочная схема, диапазон
Контактная информация: E-mail: Andrey_aslanyan@vniiftri.ru
Стр. 12-14. |
|
|
|
Последние новости:
Выставки по автоматизации и электронике «ПТА-Урал 2018» и «Электроника-Урал 2018» состоятся в Екатеринбурге Открыта электронная регистрация на выставку Дефектоскопия / NDT St. Petersburg Открыта регистрация на 9-ю Международную научно-практическую конференцию «Строительство и ремонт скважин — 2018» ExpoElectronica и ElectronTechExpo 2018: рост площади экспозиции на 19% и новые формы контент-программы Тематика и состав экспозиции РЭП на выставке "ChipEXPO - 2018" |